| 发明名称 | 取向膜涂覆检测方法及检测设备 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种取向膜涂覆检测方法及检测设备，涉及显示技术领域，用于提高检测取向膜涂覆效果的精准度。其中所述取向膜涂覆检测方法包括：读取待检测基板上的取向膜的图形；获取所述取向膜的图形，并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。本发明提供的取向膜涂覆检测方法及检测设备用于检测取向膜涂覆的效果。 | ||
| 申请公布号 | CN105652486A | 申请公布日期 | 2016.06.08 |
| 申请号 | CN201610236589.4 | 申请日期 | 2016.04.15 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 徐长健;马国靖;任锦宇;陆顺沙 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种取向膜涂覆检测方法，其特征在于，包括：读取待检测基板上的取向膜的图形；获取所述取向膜的图形，并在将所述取向膜的图形与储存的所述待检测基板的显示区域的图形对位后，测量所述取向膜的图形的边缘与所述显示区域的图形的边缘之间的距离。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||