发明名称 | 用于检查两串相交孔交点误差的检具 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种用于检查两串相交孔交点误差的检具,包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块,各检查轴一端套有轴套,其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽;该检具结构、组成简单,极大的节约了检验周期,提高了检验效率,节约了检验成本,适于批量零件的快速检验。 | ||
申请公布号 | CN205300468U | 申请公布日期 | 2016.06.08 |
申请号 | CN201620039388.0 | 申请日期 | 2016.01.15 |
申请人 | 重庆机床(集团)有限责任公司 | 发明人 | 高小红;龙凤 |
分类号 | G01B5/14(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/14(2006.01)I |
代理机构 | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人 | 赵荣之 |
主权项 | 一种用于检查两串相交孔交点误差的检具,其特征在于:包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块,各检查轴一端套有轴套,其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽。 | ||
地址 | 401336 重庆市南岸区江溪路6号 |