发明名称 用于检查两串相交孔交点误差的检具
摘要 本实用新型公开了一种用于检查两串相交孔交点误差的检具,包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块,各检查轴一端套有轴套,其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽;该检具结构、组成简单,极大的节约了检验周期,提高了检验效率,节约了检验成本,适于批量零件的快速检验。
申请公布号 CN205300468U 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201620039388.0 申请日期 2016.01.15
申请人 重庆机床(集团)有限责任公司 发明人 高小红;龙凤
分类号 G01B5/14(2006.01)I 主分类号 G01B5/14(2006.01)I
代理机构 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人 赵荣之
主权项 一种用于检查两串相交孔交点误差的检具,其特征在于:包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块,各检查轴一端套有轴套,其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽。
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