发明名称 |
同时填充及平坦化不同尺寸深沟槽的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种同时填充及平坦化不同尺寸深沟槽的方法,包括以下步骤:步骤一、在硅基板上淀积一层或数层氧化膜或氮化膜的组合体,作为阻挡层;步骤二、淀积光刻胶,显影后刻蚀氧化膜或氮化膜的组合体,露出后续流程需要刻蚀深沟槽的硅衬底;步骤三、去除光刻胶,然后利用氧化膜或氮化膜的组合体作为阻挡层,刻蚀出具有不同深宽比的深沟槽的图形;步骤四、在硅片上淀积一层台阶覆盖能力较好的氧化膜;步骤五、通过化学机械研磨的方式将位于阻挡层上方的氧化膜研磨去除,从而降低深沟槽的深宽比;步骤六、进行连续几轮的氧化膜淀积和化学机械研磨,直至将不同尺寸的深沟槽均填满。本发可以降低大高宽比的深沟槽的填充难度,同时又可保证大开口的沟槽里的填充物不被去除,工艺简单,效果明显。 |
申请公布号 |
CN103035486B |
申请公布日期 |
2016.06.08 |
申请号 |
CN201210367905.3 |
申请日期 |
2012.09.28 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
刘继全;钱志刚;成鑫华 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
孙大为 |
主权项 |
一种同时填充及平坦化不同尺寸深沟槽的方法,所述深沟槽开口尺寸为0.8微米至100微米,深度为2微米至10微米,深宽比为0.02至12.5,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、在硅衬底上淀积一层或数层氧化膜或氮化膜的组合体,作为阻挡层;步骤二、淀积光刻胶,显影后刻蚀氧化膜或氮化膜的组合体,露出后续流程需要刻蚀深沟槽的硅衬底;步骤三、去除光刻胶,然后利用氧化膜或氮化膜的组合体作为阻挡层,刻蚀出具有不同深宽比的深沟槽的图形;步骤四、在硅衬底上淀积一层台阶覆盖能力较好的氧化膜,所述深沟槽的填充采用常压或低压化学气相淀积生长工艺,生长厚度为1000~10000埃,填充厚度为深沟槽深度的1/2到1/5;步骤五、通过化学机械研磨的方式将位于阻挡层上方的氧化膜研磨去除,从而降低深沟槽的深宽比;步骤六、进行连续几轮的氧化膜淀积和化学机械研磨,直至将不同尺寸的深沟槽均填满。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |