发明名称 |
X-荧光检测肥料级磷酸和预处理磷酸中的杂质的方法 |
摘要 |
本发明提供的X-荧光测定肥料级磷酸和PPA预处理磷酸中的杂质这方法与ICP方法比对,误差在0.2以内,且这些杂质可以只要30分钟就可以得出结果。现质检部已经采用该方法作为ICP故障的应急分析方案。同时不会因为ICP的维护和维修影响到生产控制。检测方法简单,不需要增加新的设备,提高了ICP的使用寿命,且不耽误生产。 |
申请公布号 |
CN105651800A |
申请公布日期 |
2016.06.08 |
申请号 |
CN201511016842.7 |
申请日期 |
2015.12.29 |
申请人 |
瓮福达州化工有限责任公司 |
发明人 |
杨晓梅;赵强;杨胜平;赵磊;王剑;文小兵;石家华 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王学强;罗满 |
主权项 |
一种X‑荧光检测肥料级磷酸和预处理磷酸中的杂质的方法,其特征在于,包括:a)将四硼酸锂、待测样品和溴化锂在铂金坩埚中混合;b)将所述铂金坩埚加热制备待测样品熔片;c)取含有所述杂质的标准溶液重复步骤a)和b)得到标准品熔片;d)分别将所述待测样品熔片和标准品熔片冷却后进行X‑荧光检测,根据结果测算所述待测样品中的杂质溶度。 |
地址 |
635000 四川省达州市通川区西外通锦国际A区13号楼2楼 |