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发明名称 薄膜試料の比表面積測定方法及び装置
摘要
申请公布号 JP5919024(B2) 申请公布日期 2016.05.18
申请号 JP20120032066 申请日期 2012.02.16
申请人 国立大学法人広島大学;マツダ株式会社 发明人 早川 慎二郎;住田 弘祐
分类号 G01N23/223;G01N23/22;G01N23/227 主分类号 G01N23/223
代理机构 代理人
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