| 发明名称 | 用于测试射频元件的测试装置 | ||
| 摘要 | 一种用于测试射频元件的测试装置，包括：具有容置空间的箱体、收纳于该容置空间中的一测试单元、以及电性连接该测试单元的控制单元，当测试该射频元件时，将该射频元件设于该容置空间中，使该测试单元与该射频元件位于同一封闭空间中，所以可增强该测试单元与该射频元件间的讯号传递。 | ||
| 申请公布号 | CN105588986A | 申请公布日期 | 2016.05.18 |
| 申请号 | CN201410570369.6 | 申请日期 | 2014.10.23 |
| 申请人 | 矽品精密工业股份有限公司 | 发明人 | 张明治;林志育;邱志贤;蔡屺滨 |
| 分类号 | G01R29/10(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;王锦阳 |
| 主权项 | 一种用于测试射频元件的测试装置，包括：箱体，其具有容置空间；测试单元，其容置于该箱体的容置空间中，以于测试时，该测试单元与该射频元件同时位于该容置空间中；以及控制单元，其电性连接该测试单元。 | ||
| 地址 | 中国台湾台中市 | ||