发明名称 用于存储器时序测试的扫描链、扫描链构建方法和相应装置
摘要 本发明公开了一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法,包括:确定存储器的输入边界寄存器,根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型,确定所需的测试向量的数目N;基于所述数目N,布置扫描链,使得在所述扫描链中,在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器,存在至少(N-1)个连续的非边界寄存器;以及设置输入边界寄存器以及(N-1)个非边界寄存器的控制信号,使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。还公开了如此构建的扫描链,以及相应的装置。由此,优化了测试向量的产生和加载过程,提高了测试效率。
申请公布号 CN105572573A 申请公布日期 2016.05.11
申请号 CN201410599243.1 申请日期 2014.10.30
申请人 国际商业机器公司 发明人 侯吉祥;刘俐敏;王柳笛;吕寅鹏;李海龙
分类号 G01R31/3177(2006.01)I 主分类号 G01R31/3177(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 周良玉;于静
主权项 一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法,包括:确定存储器的输入边界寄存器,所述输入边界寄存器是存储器的输入引脚所连接到的第一级寄存器;根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型,确定所述输入边界寄存器所需的测试向量的数目N;基于所述数目N,布置扫描链,使得在所述扫描链中,在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器,存在至少(N‑1)个连续的非边界寄存器;以及设置所述输入边界寄存器以及所述(N‑1)个非边界寄存器的控制信号,使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。
地址 美国纽约