Verfahren zum optimierten Einstellen der Lichtleistung in der Objektebene bei Auflichtmikroskopen

摘要

Verfahren zum optimierten Einstellen der Lichtleistung in der Objektebene bei Auflichtmikroskopen durch automatische Begrenzung der Lichtintensität der ausgeleuchteten Fläche unter Berücksichtigung der vorliegenden Mikroskop-Geräteparameter, wobei hierfür eine Überprüfung erfolgt, ob oder inwieweit eine thermische Gefährdung oder Schädigung der beleuchteten Flächenabschnitte relevant ist, um beim Erreichen eines Schwellwerts die Lichtleistung der Lichtquelle zu regulieren.