发明名称 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法
摘要 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,包括以下步骤:采用三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnON薄膜,采用反应射频磁控溅射制备三明治结构的ZnON薄膜,以纯度为99.999%的锌靶为溅射靶材,生长ZnON薄膜前对高纯锌靶材利用氩离子束预溅射5-15分钟;通过两步反应射频磁控溅射生长的方法,第一步生长制备的非晶富氮ZnON薄膜;第二步制备富氧ZnON多晶薄膜;减小了薄膜体内和晶界缺陷密度,从而得到具有高迁移率、高稳定性的ZnON薄膜材料。
申请公布号 CN105525268A 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201610059148.1 申请日期 2016.01.28
申请人 南京大学 发明人 叶建东;程丽娜;朱顺明;汤琨;任芳芳;顾书林;郑有炓
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人 陈建和
主权项 一种提高ZnON薄膜迁移率和稳定性的方法,其特征在于,包括以下步骤:采用三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,夹层上部的覆盖层为富氧ZnON薄膜,采用反应射频磁控溅射制备三明治结构的ZnON薄膜(异质结),以纯度为99.999%的锌靶为溅射靶材,以氩气、氮气、氧气的混合气体为溅射气体,生长ZnON薄膜前溅射室的背景真空度小于2×10<sup>‑7</sup>Torr,以排净溅射室中的空气,射频功率为120‑300W,衬底温度为室温至100℃,生长ZnON薄膜前对高纯锌靶材利用氩离子束预溅射5‑15分钟;通过两步反应射频磁控溅射生长的方法,第一步:氩气、氮气、氧气的流量分别为20sccm、100sccm、0.8‑5sccm,薄膜厚度为20‑150纳米,第一步生长得到一层富氮的ZnON薄膜;第二步:氩气、氮气、氧气的流量分别为20sccm、100sccm、8‑20sccm,第二步生长得到一层富氧的ZnON薄膜,薄膜层厚为5‑30纳米。
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