| 发明名称 | 一种磁存储介质数据销毁效果检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及磁存储介质技术领域，本发明公开了一种磁存储介质数据销毁效果检测方法，其具体包括以下步骤：取记录了数据的磁存储介质作为被测样件，先得到被测样件的磁化强度 <img file="dest_path_image002.GIF" wi="34" he="26" />，再将被测样件进行消磁，得到被测样件消磁后的磁化强度<img file="dest_path_image004.GIF" wi="34" he="26" />，然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ，最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度。将读取数据时磁头读取的峰值电压转化为可以测量到的磁化强度，在消磁前后，分别测量磁存储介质的磁化强度，并设定消磁前后磁化强度比值的磁化系数公式，从而根据公式定量地计算出磁存储介质上数据销毁的效果。 | ||
| 申请公布号 | CN103400586B | 申请公布日期 | 2016.04.27 |
| 申请号 | CN201310281041.8 | 申请日期 | 2013.07.05 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第三十研究所 | 发明人 | 温柏龙;张剑;刘晓毅;易涛;齐伟钢;黄旭 |
| 分类号 | G11B5/024(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I | 主分类号 | G11B5/024(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人 | 徐宏 |
| 主权项 | 一种磁存储介质数据销毁效果检测方法，其具体包括以下步骤：取记录了数据的磁存储介质作为被测样件，先得到被测样件的磁化强度M<sub>Sr</sub>，再将被测样件进行消磁，得到被测样件消磁后的磁化强度M<sub>Rr</sub>，然后根据消磁前后的磁化强度计算出消磁系数γ，最后根据消磁系数γ判断磁存储介质上数据销毁的程度；所述消磁系数γ的计算公式为：<img file="FDA0000874679120000011.GIF" wi="429" he="166" />当γ值小于‑90dB时，表示数据彻底消除，完全不可恢复。 | ||
| 地址 | 610000 四川省成都市高新区创业路6号 | ||