发明名称 |
基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复系统,该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块,其中:BIST模块,用于对存储器进行测试,将检测到的故障地址暂存在BIST模块中,并向BIRA模块输出故障地址;BIRA模块,用于判断访问地址是否为故障地址,并为故障地址分配冗余资源,进行故障地址重映射,从而完成对存储器的修复。本发明同时公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复方法。利用本发明,地址比较效率高,从根本上解决了传统存储器内建自修复方法全搜索地址比较效率低,无法真正修复多故障存储器的缺点,且兼具占用面积小,功耗低的优点。 |
申请公布号 |
CN103390430B |
申请公布日期 |
2016.04.20 |
申请号 |
CN201210138501.7 |
申请日期 |
2012.05.07 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
郭旭峰;于芳 |
分类号 |
G11C29/12(2006.01)I;G11C29/18(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
一种基于哈希表的存储器内建自修复系统,其特征在于,该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块,其中:BIST模块,用于对存储器进行测试,将检测到的故障地址暂存在BIST模块中,并向BIRA模块输出故障地址;BIRA模块,用于判断访问地址是否为故障地址,并为故障地址分配冗余资源,进行故障地址重映射,从而完成对存储器的修复;其中,所述BIRA模块包括哈希函数逻辑电路、故障地址哈希表、比较逻辑电路、冗余存储区及数据通道选择器,其中哈希函数逻辑的输出作为故障地址哈希表的地址信号,故障地址哈希表的输出和访问地址共同作为比较逻辑的输入,比较逻辑的输出作为冗余存储区的使能信号和数据通道选择器的控制信号,冗余存储区的数据端与数据通道选择器的一个通道相连。 |
地址 |
100083 北京市朝阳区北土城西路3号 |