一种银基触头材料金相组织的评价方法

摘要

本发明保护一种银基触头材料金相组织的评价方法。该方法采用金相显微镜对样品采集数据，并用Image-Pro Plus软件对金相图片进行分析。方法高效、操作简单、实现难度低、适应范围广的对银基触头材料金相组织进行量化评价的方法。该方法适用于不同含量的银金属银氧化物、银镍合金触头材料的金相组织量化评价，避免人工观察分析所带来的误差。

主权项

一种银基触头材料金相组织的评价方法，其特征在于，包括如下步骤：1)制备样品；2)采用金相显微镜对样品采集数据；使用金相显微镜时选择物镜放大倍数10至150倍；利用200‑1500万像素CCD或CMOS摄像头采集并保存图片；3)使用Image‑Pro Plus软件对金相图片进行分析：a)根据视场大小，将金相图片按横纵向分成5‑100份等分，得25‑10000个等面积区域；b)对各区域颗粒进行auto‑split或watershed‑split或limited watershed‑split分离；c)用软件对各区域中分离后的第二相颗粒物形貌特征尺寸进行测量，并按区域统计颗粒数；d)对上述数据进行统计分析，用形貌特性尺寸的平均值评价材料金相组织中第二相颗粒物尺寸，计算公式为：$\bar{A}=\frac{\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}{A}_i}{\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}{Q}_i}$——第二相颗粒形貌尺寸平均值A_i——编号为i的区域内第二相颗粒形貌尺寸Q_i——编号为i的区域内第二相颗粒数n——分析区域数e)用各区域内第二相颗粒数的相对标准偏差评价材料金相组织的分布均匀程度，计算公式为：$R=\frac{\sqrt{\frac{\underset{i=1}{\overset{n}{\Sigma }}{(Q_i-\bar{Q})}^2}{n-1}}}{\bar{Q}}.100\%$Q_i——编号为i的区域内第二相颗粒数R——氧化物颗粒数相对标准偏差——各区域内的第二相颗粒数平均值n——分析区域数f)输出分析评价结果。