发明名称 一种MEMS器件及其制备方法、电子装置
摘要 本发明涉及一种MEMS器件及其制备方法、电子装置。所述方法包括:步骤S1:提供MEMS晶圆,在所述MEMS晶圆上形成有若干相互间隔的具有顶角的功能区;步骤S2:在所述MEMS晶圆上形成图案化的掩膜层,以覆盖所述功能区和所述功能区顶角处周围的区域;步骤S3:选用粘结胶填充所述掩膜层中的空隙,以用于接合。本发明的优点在于:1、通过图形设计,防止MEMS像素区受到损坏(Damage)。2、提高了产品的良率(Yield)。
申请公布号 CN105480938A 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201410531380.1 申请日期 2014.10.10
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 郑超;冯霞;李进
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B81C3/00(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 高伟;冯永贞
主权项 一种MEMS器件的制备方法,包括:步骤S1:提供MEMS晶圆,在所述MEMS晶圆上形成有若干相互间隔的具有顶角的功能区;步骤S2:在所述MEMS晶圆上形成图案化的掩膜层,以覆盖所述功能区和所述功能区顶角处周围的区域;步骤S3:选用粘结胶填充所述掩膜层中的空隙,以用于接合。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
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