一种精粗结合的光学表面缺陷的检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种粗精结合的光学表面缺陷检测方法及装置，本发明涉及光学表面检测领域。本发明是要解决传统的肉眼识别的检测方式效率低下、检测精度有限、自动化水平低的问题，从而提出一种基于图像处理和模式识别技术的光学表面缺陷识别方法。该方法是分为两个步骤，步骤一对输入的原始图像直接利用基于图像建模的方差信息进行快速粗检测，获取异常区域的位置及其区域；步骤二是对区域中疑似缺陷利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，最后输出结果。本发明应用于光滑表面的定量损伤检测和污渍分析，检测效率快，精度高。

主权项

一种精粗结合的光学表面缺陷的检测方法，其包括：步骤一：对材料表面的图像进行直接利用建模的方差信息进行快速粗检测，确定疑似缺陷区域位置及轮廓；步骤二：对疑似缺陷区域利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，得到图像的GIST特征向量；步骤三：以所述GIST特征向量为缺陷分类依据，输入到分类器进行分类，对分类结果进行分析，输出最终精检测后的损伤信息；其中，步骤一中通过将原始图像进行分块得到多个块图像，并根据块图像的方差判断其是否为疑似缺陷块图像，对于超出预定方差阈值的块图像判断为疑似缺陷块图像，将未超出预定方差阈值的块图像判断为非疑似缺陷块图像；根据疑似缺陷块图像得到整个图像上的疑似缺陷区域；步骤二具体包括：根据所述疑似缺陷区域的方向对所述图像进行旋转，使得旋转后疑似缺陷区域的外接矩形的主轴与水平方向重合；对旋转后的所述图像进行归一化处理；对归一化后的所述图像进行GIST特征提取，得到GIST特征向量；将所述GIST特征向量进行PCA降维，使得PCA覆盖能量在90％以上的维数，步骤三中利用所述降维后的所述GIST特征向量进行分类。