| 发明名称 | 一种晶片传输疲劳度测试的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种晶片传输疲劳度测试的方法，包括：晶片传输开始(1)、实时监控和采集各个运动部件的状态(2)、是否有故障(3)、记录故障部件、类型和次数(4)、晶片传输完成(5)、循环传输N次(6)、根据采集和记录故障，画出直观图表(7)、同各个部件的性能参数比较，找出异常的，重点监控查找问题(8)、根据不同问题找出相应的解决办法(9)和本次疲劳度测试结束(10)。其特征在于：能够比较全面的反应出各个部件在长时间运动中的状态趋势，直观易懂，便于统计，比较快速的找出不稳定的因素，根据类型分类，有针对性的找出解决问题的办法。 | ||
| 申请公布号 | CN102956517B | 申请公布日期 | 2016.03.30 |
| 申请号 | CN201110241145.7 | 申请日期 | 2011.08.22 |
| 申请人 | 北京中科信电子装备有限公司 | 发明人 | 杨亚兵;周文龙;谢均宇 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人 | 马强 |
| 主权项 | 一种晶片传输疲劳度测试的方法，包括：晶片传输开始（1）、实时监控和采集各个运动部件的状态（2）、是否有故障（3）、记录故障部件、类型和次数（4）、晶片传输完成（5）、循环传输N次（6）、根据采集和记录故障，画出直观图表（7）、同各个部件的性能参数比较，找出异常的，重点监控查找问题（8）、根据不同问题找出相应的解决办法（9）和本次疲劳度测试结束（10）；其特征在于：能够全面的反应出各个部件在长时间运动中的状态趋势，直观易懂，便于统计，快速的找出不稳定的因素，根据类型分类，有针对性的找出解决问题的办法；把每个运动部件在运动过程中的状态（2）都做成图表形式，直观地显示出来，图表包括电机的温度随运动时间变化的趋势图，电机的误差随运动时间变化的趋势图，都能方便的表达出来，方便易懂。 | ||
| 地址 | 101111 北京市中关村科技园通州园光机电一体化产业基地兴光二街六号 | ||