一种光器件S参数测量中的光路去嵌入方法

摘要

本发明公开了一种光器件S参数测量中的光路去嵌入方法，包括以下步骤：步骤一：当光夹具S参数未知时，根据光夹具的特征参数构建光夹具的等效模型，转入步骤二，若当光夹具S参数已知时，则直接转入步骤三；步骤二：利用光夹具的等效模型的长度、折射率和损耗值这三个特征参数求解光夹具S参数；步骤三：利用光夹具S参数得出光夹具去嵌入公式，将光夹具S参数与光夹具和被测件总的S参数进行直接运算，即可获得被测件的S参数。该方法光夹具S参数获取容易；光夹具去嵌入方法仅需将光夹具S参数与光夹具和被测件总的S参数进行直接运算，无需进行繁琐的参数变化，计算简便；消除了光夹具的影响，提高了测量精度。

主权项

一种光器件S参数测量中的光路去嵌入方法，其特征是，包括以下步骤：步骤一：当光夹具S参数未知时，根据光夹具的特征参数构建光夹具的等效模型，转入步骤二，若当光夹具S参数已知时，则直接转入步骤三；步骤二：利用光夹具的等效模型的长度、折射率和损耗值这三个特征参数求解光夹具S参数；步骤三：根据光路的数据流图得出光夹具去嵌入公式，将光夹具S参数与光夹具和被测件总的S参数进行直接运算，即可获得被测件的S参数。