发明名称 温度测量装置
摘要 本发明提供一种温度测量装置,包含温度测量部(43)、运算部(74)以及控制温度测量部和运算部的动作的控制部(73),温度测量部(43)具有基材(40)、第1温度传感器(50)、第2温度传感器(52)以及第3温度传感器(55),基材(40)具有作为与被测量体的接触面的第1面;以及第2面,其是与第1面相对的环境侧的面,所述第1温度传感器(50)、所述第2温度传感器(52)以及所述第3温度传感器(55)在环境温度(Tout)的值不同的条件下,多次测量第1温度(Tb)、第2温度(Tp)以及第3温度(Tout’),运算部(74)使用测量出的温度,求出被测量体的深部的深部温度(Tc)。
申请公布号 CN102466526B 申请公布日期 2016.03.09
申请号 CN201110310567.5 申请日期 2011.10.13
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 清水兴子
分类号 G01K7/00(2006.01)I;G01K7/18(2006.01)I;G01K7/22(2006.01)I 主分类号 G01K7/00(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;马建军
主权项 一种温度测量装置,其特征在于,该温度测量装置具有温度测量部、运算部以及控制所述温度测量部和所述运算部的动作的控制部,所述温度测量部具有:作为热介质的基材,其具有作为与被测量体接触的接触面的第1面;第1温度传感器,其测量所述基材的第1测量点处的温度作为第1温度;第2温度传感器,其测量所述基材的与所述第1测量点不同的第2测量点处的温度作为第2温度;以及第3温度传感器,其测量所述基材的与所述第1测量点和所述第2测量点不同的第3测量点处的温度作为第3温度,该第3温度是代用作所述基材的周围的环境温度的温度,所述第1测量点、所述第2测量点以及所述第3测量点位于所述基材的外表面上或者所述基材的内部,所述第1温度传感器、所述第2温度传感器以及所述第3温度传感器在所述环境温度不同的条件下,多次测量所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度,所述运算部根据通过所述多次测量而得到的所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度,基于深部温度的运算式,求出远离所述第1面的、所述被测量体的深部的深部温度。
地址 日本东京都