| 摘要 |
전자 디바이스에 의해 스피치 신호 품질을 측정하기 위한 방법이 설명된다. 방법은 수정된 단일-채널 스피치 신호를 획득하는 단계를 포함한다. 방법은 또한, 수정된 단일-채널 스피치 신호에 기초하여 다중 객관적 왜곡들을 추정하는 단계를 포함한다. 다중 객관적 왜곡들은 적어도 하나의 포어그라운드 왜곡 및 적어도 하나의 백그라운드 왜곡을 포함한다. 방법은 다중 객관적 왜곡들에 기초하여 포어그라운드 품질 및 백그라운드 품질을 추정하는 단계를 더 포함한다. 방법은 추가적으로, 포어그라운드 품질 및 백그라운드 품질에 기초하여 전체 품질을 추정하는 단계를 포함한다. |
