发明名称 一种导电部高度测试装置及测试方法
摘要 本发明涉及导电测试技术领域,公开了一种导电部高度测试装置及测试方法。本发明中,导电部高度测试装置包含:测试电路板、多个指示元件以及供电电源;测试电路板包含多个导电测试部,各导电测试部对应于各待测导电部;多个指示元件设置于测试电路板,各指示元件的第一端电性连接于各导电测试部;供电电源连接于各指示元件的第二端;于测试时,所述测试电路板盖合于所述接地金属板;根据各指示元件的状态,判断出各指示元件所连接的导电测试部对应的待测导电部的高度是否符合要求。本实施方式提供的导电部高度测试装置及测试方法,能够快速测试出待测导电部的高度是否满足要求,从而为组装后的电子设备提供质量保证。
申请公布号 CN105334414A 申请公布日期 2016.02.17
申请号 CN201510731157.6 申请日期 2015.10.31
申请人 上海与德通讯技术有限公司 发明人 覃绍仕;许益明;邵一祥
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R1/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人 成丽杰
主权项 一种导电部高度测试装置,其特征在于,用于测试接地金属板上的多个待测导电部的高度;所述导电部高度测试装置包含:测试电路板、多个指示元件以及供电电源;所述测试电路板包含多个导电测试部,各导电测试部对应于各待测导电部;所述多个指示元件设置于所述测试电路板,各指示元件的第一端电性连接于各导电测试部;所述供电电源连接于各指示元件的第二端;于测试时,所述测试电路板盖合于所述接地金属板;根据各指示元件的状态,判断出各指示元件所连接的导电测试部对应的待测导电部的高度是否符合要求;其中,当各指示元件处于指示状态时,表示各指示元件连接的各导电测试部所对应的待测导电部的高度符合要求。
地址 201506 上海市金山区通业路218号3幢2层