发明名称 |
用于MicroSD型无线网卡的测试装置和方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于MicroSD型无线网卡的测试装置和方法,其中该测试装置包括:微带定向耦合器,包括两条平行的第一微带线和第二微带线,其中,第一微带线的一端与MicroSD型无线网卡的收/发开关相连接,其另一端与MicroSD型无线网卡的天线相连接,第二微带线的一端通过电阻接地,其另一端与射频测试馈点相连接,用于通过第一微带线和第二微带线将射频链路的信号引出或将输入测试信号引入射频链路的接收通路;测试座,用于分别根据射频链路的信号或输入测试信号对MicroSD型无线网卡的性能参数进行测试。 |
申请公布号 |
CN102209005B |
申请公布日期 |
2016.02.17 |
申请号 |
CN201010209807.8 |
申请日期 |
2010.06.25 |
申请人 |
无锡中科龙泽信息科技有限公司;中科芯集成电路股份有限公司 |
发明人 |
杨延辉;郭刚;王峥 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01)I |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京亿腾知识产权代理事务所 11309 |
代理人 |
陈霁 |
主权项 |
一种用于MicroSD型无线网卡的测试装置,其特征在于,包括:微带定向耦合器,包括两条平行的第一微带线和第二微带线,其中,所述第一微带线的一端(1)与所述MicroSD型无线网卡的收/发开关相连接,其另一端(4)与所述MicroSD型无线网卡的天线相连接,所述第二微带线的一端(3)通过电阻接地,其另一端(2)与射频测试馈点相连接,用于通过所述第一微带线和第二微带线将射频链路的信号引出或将输入测试信号引入所述射频链路的接收通路;当通过所述第一微带线的一端(1)将射频链路的信号引出时,所述第一微带线的另一端(4),以及与所述射频测试馈点相连接的第二微带线的另一端(2)为耦合口;所述第二微带线的一端(3)为隔离口;当通过所述第二微带线的另一端(2)将测试信号引入时,所述第二微带线的一端(3),以及与所述MicroSD型无线网卡的所述收/发开关相连接的第一微带线的一端(1)为耦合口,所述第一微带线的另一端(4)为隔离口;测试座,用于分别根据所述射频链路的信号或所述输入测试信号对所述MicroSD型无线网卡的性能参数进行测试;所述第一微带线和所述第二微带线的特征阻抗值分别与所述电阻的电阻值相同。 |
地址 |
214072 江苏省无锡市蠡园开发区滴翠路100号530大厦2号楼18层 |