发明名称 石墨烯场效应晶体管及其制作方法
摘要 一种石墨烯场效应晶体管的制作方法,包括:提供衬底,在所述衬底上形成氧化硅层;在所述氧化硅层上形成石墨烯沟道层;在所述石墨烯沟道层的两端形成源端和漏端;去除部分氧化硅层;在所述石墨烯沟道层上形成栅结构。本发明采用缓冲湿法腐蚀处理,去除了与石墨烯沟道层接触的氧化硅层,形成了悬空石墨烯沟道层,减小了SiO<sub>2</sub>薄膜对石墨烯带来的污染,从而可以提高源端和漏端之间石墨烯沟道层载流子迁移率,改善导电性能。本发明实施例还提供一种石墨烯场效应晶体管。
申请公布号 CN103187283B 申请公布日期 2016.02.17
申请号 CN201110454051.8 申请日期 2011.12.29
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 张海洋;张城龙
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 骆苏华
主权项 一种石墨烯场效应晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底上形成有氧化硅层;在所述氧化硅层上形成石墨烯沟道层;在所述石墨烯沟道层的两端上形成源端和漏端;去除源端和漏端之间位于所述石墨烯沟道层下方的部分氧化硅层,形成具有间隔的氧化硅层;在源端和漏端之间的所述石墨烯沟道层上形成栅结构。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号