发明名称 |
鳍状场效电晶体及其制程 |
摘要 |
鳍状场效电晶体(FinFET)制程,包含有下述步骤。首先,提供一基底。接着,形成一第一鳍状场效电晶体以及一第二鳍状场效电晶体于基底上,其中第一鳍状场效电晶体包含一第一金属层,而第二鳍状场效电晶体包含一第二金属层。然后,进行一处理制程于第一金属层,俾改变第一鳍状场效电晶体的临限电压。此外,本发明亦提供由此制程形成之鳍状场效电晶体。 |
申请公布号 |
TWI521705 |
申请公布日期 |
2016.02.11 |
申请号 |
TW101107838 |
申请日期 |
2012.03.08 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
林建廷;江文泰 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
吴丰任;戴俊彦 |
主权项 |
一种鳍状场效电晶体(FinFET)制程,包含有:提供一基底;形成一第一鳍状场效电晶体以及一第二鳍状场效电晶体于该基底上,其中该第一鳍状场效电晶体包含一第一金属层,而该第二鳍状场效电晶体包含一第二金属层,其中该第一金属层以及该第二金属层均包含一阻障层、一功函数金属层、一低电阻率材料或三者之组合;以及进行一处理制程于该第一金属层,俾改变该第一鳍状场效电晶体的临限电压。
|
地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |