发明名称 |
一种形成写入极的方法、形成多个写入极的方法及磁性记录器件 |
摘要 |
本发明涉及经全膜镀生产的镶嵌写入极。公开一种形成写入极的方法,该方法包括在晶片的衬底层上形成停止层,所述停止层具有位于所述衬底层中的镶嵌(大马士革)沟槽上方的开口;在所述停止层上形成缓冲层,所述缓冲层具有位于所述停止层的开口上方的开口。该方法还包括在所述晶片上镀磁性材料层,在位于所述镶嵌沟槽上方的磁性材料的区域上布置第一牺牲材,在所述晶片上进行铣削或蚀刻操作以去除不被第一牺牲材料覆盖的磁性材料以及去除第一牺牲材料。该方法还包括在所述晶片上布置第二牺牲材料,以及在所述晶片上进行抛光操作以去除位于所述镶嵌沟槽上方的磁性材料区域,以去除第二牺牲材料,以及去除所述缓冲层。 |
申请公布号 |
CN101996641B |
申请公布日期 |
2016.02.10 |
申请号 |
CN201010260525.0 |
申请日期 |
2010.08.20 |
申请人 |
西部数据(弗里蒙特)公司 |
发明人 |
R·周;M·蒋;X·项;J·王;G·罗;Y·李 |
分类号 |
G11B5/127(2006.01)I |
主分类号 |
G11B5/127(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
赵蓉民 |
主权项 |
一种形成写入极的方法,包含如下步骤:在晶片的衬底层中形成镶嵌沟槽;在形成所述镶嵌沟槽的步骤之后在所述晶片的所述衬底层上形成停止层,所述停止层具有位于所述衬底层中的所述镶嵌沟槽上方的开口使得没有所述停止层部分位于所述镶嵌沟槽中;在所述停止层上形成缓冲层,所述缓冲层具有位于所述停止层的所述开口上方的开口;在形成所述停止层和所述缓冲层之后在所述晶片上镀磁性材料层;在位于所述镶嵌沟槽上方的磁性材料区域上布置第一牺牲材料;在所述晶片上进行铣削或蚀刻操作以去除不被所述第一牺牲材料覆盖的磁性材料以及去除所述第一牺牲材料;在所述晶片上布置第二牺牲材料;以及在所述晶片上进行抛光操作以去除位于所述镶嵌沟槽上方的所述磁性材料区域,去除所述第二牺牲材料,以及去除所述缓冲层。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |