| 发明名称 | 用于检测组件的光学装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型提出一种用于检测组件的光学装置，包含有：一承载台，用于供组件承载；一发光源，用于发出光线以投射组件；一透镜，具有一自处向周缘递减的厚度，且设置于承载台一侧，用于组件反射发光源所投射的光线后，供组件所反射的光线穿透以让穿透的光线折射；以及一摄影件，为设置于透镜相对于承载台的一侧，用于接收折射后的光线以取得组件的影像。 | ||
| 申请公布号 | CN205015284U | 申请公布日期 | 2016.02.03 |
| 申请号 | CN201520622681.5 | 申请日期 | 2015.08.18 |
| 申请人 | 昆山全盈自动化设备有限公司 | 发明人 | 张勋章;洪立玟;李秉益 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人 | 董建林 |
| 主权项 | 一种用于检测组件的光学装置，包括：一承载台，用于供组件承载；一发光源，用于发出光线以投射组件；一透镜，具有一自中央处向周缘递减的厚度，且设置于承载台一侧，用于所述组件反射发光源所投射的光线后，供组件所反射的光线穿透以让穿透的光线折射；以及一摄影件，设置于透镜相对于承载台的一侧，用于接收折射后的光线以取得组件的影像。 | ||
| 地址 | 215300 江苏省苏州市昆山市千灯镇圣祥中路225号 | ||