半导体元件测试用分选机及其工作方法

摘要

明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行，由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置，其中，所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此，具有可以大幅度地减少管理者的手动作业，并提高分选机的运行率的效果。

主权项

一种半导体元件测试用分选机，其特征在于，包括：测试托盘，具备多个插入件，所述插入件具有固定所安置的半导体元件的闩锁件；元件移动器，在所述测试托盘和其他装载单元之间移动半导体元件；操作器，为了执行所述元件移动器的作业而运行，通过操作所述闩锁件而使半导体元件能够移动；托盘支撑体，支撑所述测试托盘，以能够通过所述操作器操作所述闩锁件；资讯获取器，获取关于安置在所述测试托盘上的半导体元件的非正常安装与否的资讯；控制器，根据通过所述资讯获取器获取的资讯，判断安置在所述测试托盘上的半导体元件的非正常安置，当确认安置在所述测试托盘上的半导体元件的非正常安置时，使所述操作器重新操作至少一次；连接器，将通过所述元件移动器移动到所述测试托盘的半导体元件电连接到测试器侧。