发明名称 |
具有温度补偿自保护硅基APD阵列器件的制作方法 |
摘要 |
本发明涉及一种具有温度补偿自保护硅基APD阵列器件的制造方法,其结构包括:雪崩光电二极管(APD)阵列、温敏二极管和淬灭电阻。所述雪崩光电二极管阵列由微元APD,淬灭电阻与微元APD串联形成单元,所有这些单元并联在一起形成线阵,线阵器件与温敏二极管表面贴装连接。这种结构的APD阵列具有温度补偿性好,均匀性高,响应速度快,低噪声等优点。 |
申请公布号 |
CN105280551A |
申请公布日期 |
2016.01.27 |
申请号 |
CN201410301179.4 |
申请日期 |
2014.06.30 |
申请人 |
哈尔滨工大华生电子有限公司 |
发明人 |
不公告发明人 |
分类号 |
H01L21/77(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/77(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
具有温度补偿自保护硅基APD阵列器件的制造方法,其特征在于,包括:提供一种硅片作为衬底片;在所述衬底片上制造出微元APD构成阵列;在APD阵列外围采用表面贴装技术SMD对APD阵列、温敏二极管和淬灭电阻进行电器连接。 |
地址 |
150028 黑龙江省哈尔滨市松北区科技创新城科技一街719号401室 |