发明名称 晶片形电子零件特性检查分类装置
摘要
申请公布号 TWI513521 申请公布日期 2015.12.21
申请号 TW099128859 申请日期 2010.08.27
申请人 慧萌高新科技有限公司 发明人 山本哲矢
分类号 B07C5/344;B07C5/36;G01R31/01 主分类号 B07C5/344
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种晶片形电子零件特性检查分类装置,具有分类部分,该分类部分是将晶片形电子零件的电气特性检查,并依据前述检查的结果将晶片形电子零件分类,其特征为:前述分类部分,具备:圆盘,在复数同心圆上等分割配置有供将前述晶片形电子零件搬运用的多数收容孔;及基准台,配置有吐出空气孔,该吐出空气孔是对应前述多数收容孔将前述晶片形电子零件分类用;及分类用托架,组装设有复数将藉由来自前述吐出空气孔的吐出空气被吐出的前述晶片形电子零件分类用的分类孔及与前述分类孔连接的喷出用管;且将具有柔软性的环状体同心设在前述各分类孔的先端部外周,并将前述圆盘的分类用托架侧的移动表面及前述环状体的先端的距离保持在比前述晶片形电子零件的外形尺寸的最小值更小的预定长度。
地址 日本