| 发明名称 | 试样分析装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种使用LED元件作为光源，使包括从光源至受光元件的测光单元小型化的试样分析装置。使由LED构成的发光部(15)和受光元件(21)保持在能够以一体的方式从装置中卸下的支架(30)上，将支架设置在保持有恒温流体(17)的恒温槽(18)内，从而使测光单元小型化。 | ||
| 申请公布号 | CN102089644A | 申请公布日期 | 2011.06.08 |
| 申请号 | CN200980126307.3 | 申请日期 | 2009.07.30 |
| 申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 足立作一郎;原田邦男;山崎功夫;木山政晴;藤田毅 |
| 分类号 | G01N21/27(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/27(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 丁文蕴;熊志诚 |
| 主权项 | 一种试样分析装置，其特征在于，具有：保持恒温流体的恒温槽；放入反应溶液的多个容器；将所述多个容器以浸渍于所述恒温槽内的恒温流体中的状态进行保持的容器盘；驱动所述容器盘旋转的驱动部；以及保持用于产生对所述容器进行照射的光的发光部和用于检测透过了所述容器的光的受光元件的支架；所述支架以浸渍于所述恒温流体中的方式配置在所述恒温槽内。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||