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发明名称
具有电极之半导体装置及具有电极之半导体装置的制造方法
摘要
本发明之半导体装置的制造方法,系包含:介由控制闸极绝缘膜(4)形成控制闸极电极(5)之第1电极形成步骤;于半导体基板(1)的表面上形成记忆节点绝缘膜(6)的步骤。又包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极之第2电极形成步骤。第2电极形成步骤,系包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极层(7a)的步骤;于记忆体闸极电极层(7a)的表面上形成蚀刻速度较记忆体闸极电极层(7a)更慢之辅助膜(8)的步骤;及对记忆体闸极电极层(7a)及辅助膜,进行异方性蚀刻的步骤。
申请公布号
TWI390678
申请公布日期
2013.03.21
申请号
TW095145945
申请日期
2006.12.08
申请人
瑞萨电子股份有限公司 日本
发明人
冈崎勉;芦田基;小崎浩司;古贺刚;冈田大介
分类号
H01L21/8247;H01L29/78
主分类号
H01L21/8247
代理机构
代理人
洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址
日本
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