发明名称 具有电极之半导体装置及具有电极之半导体装置的制造方法
摘要 本发明之半导体装置的制造方法,系包含:介由控制闸极绝缘膜(4)形成控制闸极电极(5)之第1电极形成步骤;于半导体基板(1)的表面上形成记忆节点绝缘膜(6)的步骤。又包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极之第2电极形成步骤。第2电极形成步骤,系包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极层(7a)的步骤;于记忆体闸极电极层(7a)的表面上形成蚀刻速度较记忆体闸极电极层(7a)更慢之辅助膜(8)的步骤;及对记忆体闸极电极层(7a)及辅助膜,进行异方性蚀刻的步骤。
申请公布号 TWI390678 申请公布日期 2013.03.21
申请号 TW095145945 申请日期 2006.12.08
申请人 瑞萨电子股份有限公司 日本 发明人 冈崎勉;芦田基;小崎浩司;古贺刚;冈田大介
分类号 H01L21/8247;H01L29/78 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本