发明名称 Überwachung und Steuerung der Temperatur in einer Halbleiterstruktur
摘要 <p>Elektronische Vorrichtung mit wenigstens einer stromführenden Halbleiterstruktur und einer Einrichtung zum Ermitteln der Temperatur an der Halbleitervorrichtung, wobei die maximale Übergangstemperatur und die Temperaturdifferenz über der Halbleiterstruktur ermittelt werden. Wenn eine dieser beiden eine vordefinierte Temperatur überschreitet, wird die Halbleiterstruktur abgeschaltet.</p>
申请公布号 DE102014010807(A1) 申请公布日期 2015.01.29
申请号 DE20141010807 申请日期 2014.07.22
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KARTAL, VELI
分类号 H01L23/58 主分类号 H01L23/58
代理机构 代理人
主权项
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