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发明名称
半导体封装件的制造方法及半导体封装件;METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR PACKAGE AND SEMICONDUCTOR PACKAGE
摘要
本发明的半导体封装件的制造方法,系于对半导体封装件的贯通孔30形成镀覆层40时,以将形成在第1及第2积层体10、20的第1及第2凹穴15a、15b(、25a、25b)设为内侧之方式重叠第1及第2积层体10、20而于周缘区域R0使用接着剂接合,使第1及第2积层体10、20的凹穴形成为密闭空间,接着以残留包含有第1及第2积层体10、20的接合面在内的一部分之方式形成贯通孔30。接着,藉由对贯通孔30进行通孔镀覆而形成镀覆层40,周缘区域R0系作为切除部分亦即切除区域而切除,并且沿切割线DL分断成复数单体,而形成半导体封装件。
申请公布号
TW201546988
申请公布日期
2015.12.16
申请号
TW104111083
申请日期
2015.04.07
申请人
三菱电机股份有限公司 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION
发明人
二村政范 NIMURA, MASANORI;竹田滋纪 TAKEDA, SHIGENORI;立井芳直 TATEI, YOSHINAO;杉浦势 SUGIURA, IKIO
分类号
H01L23/498(2006.01)
主分类号
H01L23/498(2006.01)
代理机构
代理人
洪武雄陈昭诚
主权项
地址
日本 JP
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