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发明名称
蚀刻装置
摘要
本发明系一种蚀刻装置,其课题为实现兼具高选择性,高控制性,及高处理量之蚀刻装置。;解决手段为准备:具备处理室(21),反应种之供给部,和真空紫外光照射用灯(43)之蚀刻装置。在此蚀刻装置中,经由反覆进行使反应种吸附于晶圆(13)表面而形成反应生成物之第1工程,和经由真空紫外光照射用灯(43)而照射真空紫外光于晶圆(13)表面,使反应生成物脱离之第2工程,和将所脱离之反应生成物进行排气之第3工程之时而可进行蚀刻之故,可省略对于晶圆(13)的冷却所需之时间者。
申请公布号
TW201546867
申请公布日期
2015.12.16
申请号
TW104102883
申请日期
2015.01.28
申请人
日立全球先端科技股份有限公司 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
发明人
筱田和典 SHINODA, KAZUNORI;手束勉 TETSUKA, TSUTOMU;前田贤治 MAEDA, KENJI
分类号
H01J37/32(2006.01);H01L21/02(2006.01);H01L21/268(2006.01);H01L21/67(2006.01)
主分类号
H01J37/32(2006.01)
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本 JP
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