发明名称 |
用于质谱分析的离子漏斗 |
摘要 |
本发明提供了一种用于质谱分析的离子漏斗。公开了一种用与质谱仪中的接口。该接口包括第一离子漏斗,第一离子漏斗包括第一入口和第一出口以及在第一入口与第一出口之间的第一轴线。该接口还包括第二离子漏斗,第二离子漏斗与第一离子漏斗前后设置,包括第二入口和第二出口以及在第二入口与第二出口之间的第二轴线。其中第一轴线与第二轴线彼此相对偏移。也公开了包括该接口的质谱仪以及方法。 |
申请公布号 |
CN102103969B |
申请公布日期 |
2015.12.16 |
申请号 |
CN201010551685.0 |
申请日期 |
2010.11.17 |
申请人 |
安捷伦科技有限公司 |
发明人 |
亚历山大·莫迪凯;马克·H·韦尔利赫 |
分类号 |
H01J49/06(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
王安武 |
主权项 |
一种用在质谱仪中的接口,所述接口包括:第一离子漏斗,其包括第一入口和第一出口以及在所述第一入口与所述第一出口之间的第一轴线;以及第二离子漏斗,其与所述第一离子漏斗前后设置,所述第二离子漏斗包括第二入口和第二出口以及在所述第二入口与所述第二出口之间的第二轴线,其中所述第一轴线与所述第二轴线彼此相对偏移,其中,中性粒子在离开所述第二离子漏斗之前基本与离子分离,以及其中,所述偏移包括横向偏移。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |