发明名称 | 自动测试设备及其控制方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI512309 | 申请公布日期 | 2015.12.11 |
申请号 | TW102148866 | 申请日期 | 2013.12.27 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 庄文岳 |
分类号 | G01R31/316 | 主分类号 | G01R31/316 |
代理机构 | 代理人 | 许世正 台北市信义区忠孝东路5段412号4楼;林育庆 台北市信义区忠孝东路5段412号4楼 | |
主权项 | 一种自动测试设备,用于测试一第一待测装置,该自动测试设备包括:一储存模组,用以储存复数个资料讯号;一第一多工模组,用以接收具有不同频率的复数个时脉讯号,并依据一控制讯号由该些时脉讯号中选择其中之一输出;一控制模组,电性连接该储存模组与该第一多工模组,用以产生该控制讯号,并选择性地读取该些资料讯号其中之一;以及一第一数位类比转换模组,电性连接该第一多工模组的输出端与该控制模组,用以依据该第一多工模组所输出的该时脉讯号与被该控制模组读取的该资料讯号产生一第一测试讯号,并输出该第一测试讯号至该第一待测装置。 | ||
地址 | 桃园市龟山区华亚科技园区华亚一路66号 |