发明名称 缺陷观察方法及缺陷观察装置
摘要
申请公布号 TWI512684 申请公布日期 2015.12.11
申请号 TW102141105 申请日期 2013.11.12
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 发明人 原田实;高木裕治;中垣亮;平井大博;木附洋彦
分类号 G06T7/00;G01N23/225 主分类号 G06T7/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种缺陷观察方法,其包含:拍摄步骤,其基于来自检查装置之缺陷资讯拍摄被检查对象物,而获得缺陷图像与对应于该缺陷图像之参照图像;参数决定步骤,其使用根据上述拍摄步骤中拍摄之该缺陷图像与该参照图像获得之第一特征量分布与根据该参照图像获得之第二特征量分布,决定缺陷撷取所使用之第一参数;及观察步骤,其使用上述参数决定步骤中决定之该第一参数进行观察。
地址 日本
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