发明名称 一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结及其制备方法
摘要 本发明公开了一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结及其制备方法,肖特基结包括半导体部分和金属部分,所述的半导体部分为Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列,所述的金属部分为Ag;按摩尔比计,Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列中x=0.80~0.99,y=0.01~0.15。对Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列进行一系列组合方案处理:先在氧气氛围中热处理,再用双氧水超声清洗,再进行紫外臭氧联合处理,最后再在氧气氛围中热处理。经过上述处理后在利用磁控溅射在Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列顶部镀上Ag,形成Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结。对比测试表明,这一系列多步骤处理方案可以有效降低Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结的反向漏电流和材料中的深能级杂质,提高Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结的接触特性。
申请公布号 CN105140274A 申请公布日期 2015.12.09
申请号 CN201510496358.2 申请日期 2015.08.13
申请人 长安大学 发明人 段理;于晓晨;樊继斌;王佩;韦丰;张亚辉
分类号 H01L29/47(2006.01)I;B82B1/00(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/47(2006.01)I
代理机构 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人 李郑建;孙雅静
主权项 一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结,肖特基结包括半导体部分和金属部分,其特征在于,所述的半导体部分为Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列,所述的金属部分为Ag;按摩尔比计,Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列中x=0.80~0.99,y=0.01~0.15。
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