发明名称 |
一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结及其制备方法,肖特基结包括半导体部分和金属部分,所述的半导体部分为Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列,所述的金属部分为Ag;按摩尔比计,Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列中x=0.80~0.99,y=0.01~0.15。对Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列进行一系列组合方案处理:先在氧气氛围中热处理,再用双氧水超声清洗,再进行紫外臭氧联合处理,最后再在氧气氛围中热处理。经过上述处理后在利用磁控溅射在Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列顶部镀上Ag,形成Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结。对比测试表明,这一系列多步骤处理方案可以有效降低Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结的反向漏电流和材料中的深能级杂质,提高Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1-x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1-y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结的接触特性。 |
申请公布号 |
CN105140274A |
申请公布日期 |
2015.12.09 |
申请号 |
CN201510496358.2 |
申请日期 |
2015.08.13 |
申请人 |
长安大学 |
发明人 |
段理;于晓晨;樊继斌;王佩;韦丰;张亚辉 |
分类号 |
H01L29/47(2006.01)I;B82B1/00(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/47(2006.01)I |
代理机构 |
西安恒泰知识产权代理事务所 61216 |
代理人 |
李郑建;孙雅静 |
主权项 |
一种Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列/Ag肖特基结,肖特基结包括半导体部分和金属部分,其特征在于,所述的半导体部分为Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列,所述的金属部分为Ag;按摩尔比计,Zn<sub>x</sub>Ag<sub>(1‑x)</sub>N<sub>y</sub>O<sub>(1‑y)</sub>纳米阵列中x=0.80~0.99,y=0.01~0.15。 |
地址 |
710064 陕西省西安市雁塔区二环南路中段126号 |