发明名称 |
高精度光电尘埃颗粒检测装置及检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高精度光电尘埃颗粒检测装置及其方法,照明光路包括光源、第一掩膜及第一透镜,射光收集系统包括第二透镜、第二掩膜及感光元件,第一掩膜和第二掩膜上开设有呈“吕”字形设置的透光通道;测量腔包括上下对称叠合设置的第一光敏感区域及第二光敏感区域,第一光敏感区域的边长小于第二光敏感区域,第一光敏感区域与第二光敏感区域的厚度均大于最大可测量粒径,且第一光敏感区域与第二光敏感区域之间设有间隙d。本实用可有效地消除边界效应带来的误差,以相对简单可靠的系统达到较高的测量精度、低成本、可精确检测小尺寸的空气颗粒。 |
申请公布号 |
CN105115880A |
申请公布日期 |
2015.12.02 |
申请号 |
CN201510581714.0 |
申请日期 |
2015.09.14 |
申请人 |
宁波中物东方光电技术有限公司 |
发明人 |
曲敬镭;朱春灵;张建式 |
分类号 |
G01N15/14(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/14(2006.01)I |
代理机构 |
宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 |
代理人 |
张圆 |
主权项 |
一种高精度光电尘埃颗粒检测装置,包括照明光路、测量腔(4)、与照明光路的中心轴线垂直设置的气路系统、用于将散射光进行反射的反射镜(5)、散射光收集系统及处理器,其特征在于:所述的照明光路包括光源(1)、第一掩膜(2)及用于聚焦的第一透镜(3),所述的射光收集系统包括第二透镜(6)、第二掩膜(7)及用于产生电脉冲的感光元件(8),所述的第一掩膜(2)和第二掩膜(7)上开设有呈“吕”字形设置的透光通道;所述的测量腔(4)包括上下对称叠合设置的第一光敏感区域(4.1)及第二光敏感区域(4.2),所述的第一光敏感区域(4.1)的边长小于所述的第二光敏感区域(4.2),所述的第一光敏感区域(4.1)与第二光敏感区域(4.2)的厚度均大于最大可测量粒径,且所述的第一光敏感区域(4.1)与第二光敏感区域(4.2)之间设有间隙d。 |
地址 |
315100 浙江省宁波市鄞州区潘火街道金谷北路228号中物科技园创新大厦3F |