发明名称 微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统及其控制方法
摘要 本发明提出一种微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统及其控制方法,包括:激励信号源;基座;三轴微动平台,与基座固定相连,用于对微机电系统MEMS磁通门磁强计的位置进行调整;芯片固定装置,用于固定微机电系统MEMS磁通门磁强计,其设置在三轴微动平台的顶部,以跟随三轴微动平台移动;探针卡,分别与基座、激励信号源和微机电系统MEMS磁通门磁强计连接,用于在与微机电系统MEMS磁通门磁强计导通时,导出微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;数据采集装置,与探针卡相连,用于采集输出信号;处理装置,与数据采集装置相连,用于接收微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号,并对输出信号进行锁相放大,以得到测试结果。本发明具有成本低、易于实现的优点。
申请公布号 CN105093155A 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201510528324.7 申请日期 2015.08.25
申请人 清华大学 发明人 杨建中;刘幂;尤政;李滨;阮勇
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人 张大威
主权项 一种微机电系统MEMS磁通门磁强计测试系统,其特征在于,包括:激励信号源,用于为所述测试系统提供激励信号;基座;三轴微动平台,所述三轴微动平台与所述基座固定相连,所述三轴微动平台用于对微机电系统MEMS磁通门磁强计的位置进行调整;芯片固定装置,所述芯片固定装置用于固定所述微机电系统MEMS磁通门磁强计,所述芯片固定装置设置在所述三轴微动平台的顶部,以跟随所述三轴微动平台移动;探针卡,所述探针卡分别与所述基座、激励信号源和所述微机电系统MEMS磁通门磁强计连接,用于在与所述微机电系统MEMS磁通门磁强计导通时,导出所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;数据采集装置,所述数据采集装置与所述探针卡相连,用于采集所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号;处理装置,所述处理装置与所述数据采集装置相连,用于接收所述微机电系统MEMS磁通门磁强计的输出信号,并对所述输出信号进行锁相放大,以得到测试结果。
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