发明名称 半导体装置
摘要 本发明的课题在于得到一种半导体装置,其能够在降低反向恢复功耗的同时提高耐压并抑制浪涌电压。在N<sup>-</sup>型漂移层(1)的上侧设置有P型阳极层(2)。在N<sup>-</sup>型漂移层(1)的下侧设置有N<sup>+</sup>型阴极层(3)。在N<sup>-</sup>型漂移层(1)与P型阳极层(2)之间设置有第1短寿命层(4)。在N<sup>-</sup>型漂移层(1)与N<sup>+</sup>型阴极层(3)之间设置有第2短寿命层(5)。载流子在第1短寿命层(4)及第2短寿命层(5)中的寿命τ2短于在N<sup>-</sup>型漂移层(1)中的寿命τ1(τ2<τ1)。在N<sup>+</sup>型阴极层(3)中的寿命τ3长于在N<sup>-</sup>型漂移层(1)中的寿命τ1(τ1<τ3)。
申请公布号 CN103050546B 申请公布日期 2015.11.25
申请号 CN201210383444.9 申请日期 2012.10.11
申请人 三菱电机株式会社 发明人 加地考男;吉浦康博;增冈史仁
分类号 H01L29/861(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/861(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 何立波;张天舒
主权项  一种半导体装置,具备:N型漂移层;P型阳极层,其设置在所述N型漂移层上侧;N型阴极层,其设置在所述N型漂移层下侧;第1短寿命层,其设置在所述N型漂移层与所述P型阳极层之间;第2短寿命层,其设置在所述N型漂移层与所述N型阴极层之间;其特征在于,载流子在所述第1短寿命层及第2短寿命层中的寿命短于在所述N型漂移层中的寿命;在所述N型阴极层中的寿命长于在所述N型漂移层中的寿命。
地址 日本东京都