发明名称 用以测试受测装置之测试设备及方法;TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST
摘要 一种用于测试一受测装置之测试设备经组配以自该受测装置接收一回应信号并将一或多个校正函数应用于该所接收回应信号以至少部分校正该DUT之一缺陷。该测试设备经组配以藉此获得该受测装置之一经校正回应信号并评估该经校正回应信号以判断该受测装置。
申请公布号 TW201543056 申请公布日期 2015.11.16
申请号 TW104103018 申请日期 2015.01.29
申请人 爱德万测试股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION 发明人 瑞弗亚 乔辰 RIVOIR, JOCHEN
分类号 G01R31/319(2006.01) 主分类号 G01R31/319(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群陈文郎
主权项
地址 日本 JP