发明名称 厚度测定器及厚度测定方法;THICKNESS MEASUREMENT APPARATUS, THICKNESS MEASUREMENT METHOD
摘要 提供一种不受到测定对象物的表背面有无凹凸等所影响,而能够正确地测定测定对象物的厚度之厚度测定器及厚度测定方法。;厚度测定器,具备:第一及第二雷射位移计(26、27),测定测定对象物的表面的位移;及算出装置,由雷射位移计测定出的第一及第二位移,藉由演算算出测定对象物的厚度;第一及第二雷射位移计(26、27),系在一直线上相向配置,以便测定测定对象物的表背面的位移。
申请公布号 TW201542999 申请公布日期 2015.11.16
申请号 TW104101553 申请日期 2015.01.16
申请人 东京应化工业股份有限公司 TOKYO OHKA KOGYO CO., LTD. 发明人 稲尾吉浩 INAO, YOSHIHIRO;中村彰彦 NAKAMURA, AKIHIKO
分类号 G01B11/06(2006.01) 主分类号 G01B11/06(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP