发明名称 |
可更换式电子装置测试治具;REPLACEABLE TEST APPARATUS FOR ELECTRONIC DEVICE |
摘要 |
本发明提供一种可更换式电子装置测试治具,该测试治具用于对不同规格的电子装置进行性能参数的测试,所述测试治具包括托盘组和连接模组,该托盘组包括多个不同规格的托盘,该每个托盘均具有至少一个卡合件,该连接模组组包括至少一个连接模组,所述多个托盘可通过所述卡合件分别与所述连接模组可拆卸的连接,所述连接模组中的插头即可与托盘中的电子装置电性连接。 |
申请公布号 |
TW201543050 |
申请公布日期 |
2015.11.16 |
申请号 |
TW103112912 |
申请日期 |
2014.04.08 |
申请人 |
鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. |
发明人 |
郝菊兰 HAO, JU-LAN;杨顺全 YANG, SHUN CHUAN |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G01R1/04(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
新北市土城区自由街2号 TW |