发明名称 可更换式电子装置测试治具;REPLACEABLE TEST APPARATUS FOR ELECTRONIC DEVICE
摘要 本发明提供一种可更换式电子装置测试治具,该测试治具用于对不同规格的电子装置进行性能参数的测试,所述测试治具包括托盘组和连接模组,该托盘组包括多个不同规格的托盘,该每个托盘均具有至少一个卡合件,该连接模组组包括至少一个连接模组,所述多个托盘可通过所述卡合件分别与所述连接模组可拆卸的连接,所述连接模组中的插头即可与托盘中的电子装置电性连接。
申请公布号 TW201543050 申请公布日期 2015.11.16
申请号 TW103112912 申请日期 2014.04.08
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 郝菊兰 HAO, JU-LAN;杨顺全 YANG, SHUN CHUAN
分类号 G01R31/28(2006.01);G01R1/04(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW