发明名称 二次雷达通道交叉测试方法
摘要 本发明涉及无线信号传输技术领域,公开了一种二次雷达通道交叉测试方法。该方法包括步骤:测试源逐一输出囊括待测主机工作频段内所有工作频点的射频测试信号,该射频信号经通路设备和待测通道后传输到待测主机,待测主机提取出射频测试信号经各环节后的特征向量;在通路设备和待测通道之间交换连接关系后再次提取特征向量;由两次特征向量计算总误差。本发明的技术方案为二次雷达的校准提供了一种全新的测试方法,在测试源和被测主机间仅使用通路设备(将测试源功分多路)连接,该方案实现成本低,不需要系统增加任何的额外设备,操作简单,对测试人员的能力要求也不高,且不需要昂贵的第三方设备,便于工程化实现。
申请公布号 CN105049137A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510526138.X 申请日期 2015.08.25
申请人 四川九洲电器集团有限责任公司 发明人 熊朝廷;杨廷洪;蒋耀伟
分类号 H04B17/30(2015.01)I 主分类号 H04B17/30(2015.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 段晓玲;白华胜
主权项 一种二次雷达通道交叉测试方法,其特征在于,所述方法包括步骤:S1,测试源逐一输出囊括待测主机工作频段内所有工作频点的射频测试信号,该射频信号经通路设备和待测通道后传输到待测主机,待测主机提取出射频测试信号经各环节后的特征向量:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mtable><mtr><mtd><mi>N</mi></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>S</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow></mtd></mtr></mtable><mo>=</mo><mfenced open = '{' close = ''><mtable><mtr><mtd><mrow><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd><mtd><mrow><mi>&phi;</mi><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd><mtd><mrow><mi>&phi;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000788215580000011.GIF" wi="452" he="213" /></maths>上式中N表示通道个数,S(n)表示特征向量、由幅度分量A(n)和相位分量φ(n)组成;S2,在通路设备和待测通道之间交换连接关系后,重复步骤S1,再做一次测试得到特征向量:<maths num="0002" id="cmaths0002"><math><![CDATA[<mrow><mtable><mtr><mtd><mi>N</mi></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><msup><mi>S</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow></mtd></mtr></mtable><mo>=</mo><mfenced open = '{' close = ''><mtable><mtr><mtd><mrow><msup><mi>A</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd><mtd><mrow><msup><mi>&phi;</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><msup><mi>A</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd><mtd><mrow><msup><mi>&phi;</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000788215580000012.GIF" wi="484" he="207" /></maths>S3,根据两次测试得到的特征向量,求得第i待测通道和第j待测通道之间的总误差为:Δij=S'(j)‑S(i)=S(j)‑S'(i)={A'(j)‑A(i) φ'(j)‑φ(i)。
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