发明名称 | 一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法,其包括:S1:在获取回波信号时,在方位向对回波信号进行稀疏采样;S2:对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正;S3:对副天线的回波信号进行二维成像获得副天线图像;S4:将副天线图像的相位作为参考相位,去除每个散射单元的初始相位;步骤S5:在频域引入压缩感知理论,对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和傅里叶系数之间关系的模型;S6:采用基于l<sub>1</sub>范数的最优化方法,利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型,获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数,反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。 | ||
申请公布号 | CN103698764B | 申请公布日期 | 2015.11.04 |
申请号 | CN201310740527.3 | 申请日期 | 2013.12.27 |
申请人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明人 | 李道京;李烈辰 |
分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 宋焰琴 |
主权项 | 一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法,所述方法包括:步骤S1:在获取回波信号时,在方位向对回波信号进行稀疏采样;步骤S2:对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正;步骤S3:对副天线的回波信号进行二维成像,获得副天线图像;步骤S4:将副天线图像的相位作为参考相位,利用主天线的复图像γ、副天线图像的相位<img file="FDA0000775806190000011.GIF" wi="114" he="69" />构建待恢复合成孔径雷达复图像模型<img file="FDA0000775806190000012.GIF" wi="309" he="96" />去除每个散射单元的初始相位,其中待恢复合成孔径雷达复图像模型γ<sub>new</sub>为复数表示主天线幅度和干涉相位图信息;步骤S5:在频域引入压缩感知理论,对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和频域的傅里叶系数之间关系的压缩感知模型;步骤S6:采用基于l<sub>1</sub>范数的最优化方法,利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型,获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数,反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。 | ||
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