| 发明名称 | 质数产生 | ||
| 摘要 | 一个特征关于一种减少与产生质数相关联的计算延迟的方法。所述方法包含产生具有多个位的第一随机数。接着，对所述第一随机数执行第一质数测试。接着，确定所述产生的第一随机数是未能通过还是通过了所述第一质数测试。如果所述第一随机数未能通过所述质数测试，那么使用相等数目的随机产生的位替换所述第一随机数的所述多个位中的一部分但并非所有，以产生第二随机数。接着，再次对所述第二随机数执行质数测试。重复这个过程直至检测到质数。 | ||
| 申请公布号 | CN105027074A | 申请公布日期 | 2015.11.04 |
| 申请号 | CN201480010280.2 | 申请日期 | 2014.03.04 |
| 申请人 | 高通股份有限公司 | 发明人 | 肖露;宾加·安萨里 |
| 分类号 | G06F7/72(2006.01)I;H04L9/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F7/72(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 宋献涛 |
| 主权项 | 一种产生质数的方法，其包括：产生具有多个位的第一随机数；对所述产生的第一随机数执行第一质数测试；确定所述产生的第一随机数未能通过所述第一质数测试；使用相等数目的随机产生的位替换所述第一随机数的所述多个位中的一部分但非所有，以产生第二随机数；以及对所述第二随机数执行第二质数测试。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||