发明名称 |
电极结构体、检测夹具及电极结构体之制造方法;ELECTRODE STRUCTURE, INSPECTION JIG, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRODE STRUCTURE |
摘要 |
本发明系揭露一种易于减低电极被磨损而露出电线问题的电极结构体、使用该电极结构体之检测夹具及电极结构体之制造方法。电极结构体(1)包含:具有大约平坦的面(11),在与面(11)交叉的方向上延长形成贯通孔(12)的具绝缘性之基材部(13);在贯通孔(12)内插入一端部,为使该端部的前端(31)位于比贯通孔(12)在面(11)上开口的开口部(14)更向内侧的位置,固定附着在贯通孔(12)的电线(3);以及用比电线(3)硬度大的镍对前端(31)镀金形成的电极(2)。 |
申请公布号 |
TW201541086 |
申请公布日期 |
2015.11.01 |
申请号 |
TW104112944 |
申请日期 |
2015.04.22 |
申请人 |
日本电产理德股份有限公司 NIDEC-READ CORPORATION |
发明人 |
于势刚 OSE, TSUYOSHI;时政光伸 TOKIMASA, MITSUNOBU |
分类号 |
G01R1/02(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R1/02(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
杨长峯李国光张仲谦 |
主权项 |
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地址 |
日本 JP |