发明名称 超声探头几何参数自动校正方法和装置
摘要 本发明提供一种超声探头几何参数的自动校正方法,它包括如下步骤:确定超声探头几何参数列表;使用默认的超声探头几何参数,调节设备参数,设置感兴趣区域;读取几何参数列表中每一项,将该项参数用于超声成像设备对超声体模进行成像,采集显示图像中感兴趣区域图像数据;根据感兴趣区域图像计算图像优劣度量;另外本发明还提供与其相关的超声探头几何参数的自动校正装置;本发明在探头规格中的几何参数基础上,对每只探头都能自动自适应寻找到提供最优图像质量的几何参数,将该最优几何参数提供给超声成像设备,可以得到最佳分辨率和几何位置精度的超声图像,从而提高图像质量。
申请公布号 CN104997533A 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201510348976.2 申请日期 2015.06.23
申请人 武汉超信电子工程有限公司 发明人 杜春宁;胡立钢;彭江;段西尧
分类号 A61B8/00(2006.01)I 主分类号 A61B8/00(2006.01)I
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人 张大威
主权项 一种超声探头几何参数的自动校正方法,其特征在于:它包括如下步骤:步骤S1:确定超声探头几何参数列表PL,记PL={P<sub>k</sub>|k=1,2,L,N};步骤S2:超声成像设备使用默认的超声探头几何参数P<sub>def</sub>,连接超声探头与超声成像设备,将超声探头固定于超声体模上方,使超声成像设备处于正常工作状态,调节设备参数,使显示设备能清晰显示体模上靶点的B模式图像,设置感兴趣区域,使得所述感兴趣区域包含一个或多个靶点;步骤S3:依次读取几何参数列表PL中每一项P<sub>k</sub>,将该项参数用于超声成像设备对超声体模进行成像,其他参数设置与步骤S2中相同,然后采集显示图像中感兴趣区域图像数据,根据感兴趣区域图像计算图像优劣度量M<sub>k</sub>;步骤S4:从所有参数项求得的感兴趣区域图像优劣度量集合ML={M<sub>k</sub>|k=1,2,L,N},找到最优的图像优劣度量M<sub>best</sub>,该最优图像优劣度量M<sub>best</sub>对应的参数P<sub>best</sub>即为该探头校正得到的最优几何参数,然后将该最优几何参数作为所述探头的几何参数应用于所述超声成像设备的成像;在上述步骤中,所述超声探头几何参数为曲率半径,或者为阵元间距,或者为扫描宽度,或者为曲率半径和阵元间距,或者为扫描宽度和阵元间距。
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