发明名称 一种浅槽源电极结构超结器件的制作工艺
摘要 本发明涉及一种浅槽源电极结构超结器件的制作工艺。本发明在P型体区离子注入之后采用高能硼离子使用接触孔光刻版掩膜注入在P型体区内形成P<sup>+</sup>区埋层结构,多晶硅栅极结构制备之后采用较低能量的砷离子进行自对准注入在P<sup>+</sup>区埋层上侧形成N<sup>+</sup>源区,然后淀积BPSG介质层,采用接触孔光刻版掩膜形成接触孔并对硅进行过刻蚀形成浅槽,穿通N<sup>+</sup>源区并进入到P<sup>+</sup>区内,形成U型的P<sup>+</sup>区。本发明减小了寄生NPN晶体管的基极长度,从而降低了基极电阻,因而增大了寄生NPN晶体管开启的难度,提高了功率器件的雪崩能量;只需要P柱光刻版、P型体区光刻版、多晶硅栅光刻版、接触孔光刻版和金属光刻版等五张光刻版,大大降低了工艺制作成本。
申请公布号 CN102789990B 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201210292965.3 申请日期 2012.08.17
申请人 西安龙腾新能源科技发展有限公司 发明人 陈桥梁;任文珍;陈仕全;马治军;杜忠鹏
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人 李罡
主权项 一种浅槽源电极结构超结器件的制作工艺,其特征在于:通过以下步骤实现:(1)、在N+衬底上生长N外延层,然后深槽刻蚀并深槽外延填充形成P柱;(2)、利用P型体区光刻版掩膜使用较低能量的硼离子注入并高温推结形成P型体区;(3)、在形成P型体区之后采用高能硼离子使用接触孔光刻版掩膜注入在P型体区内形成P+区埋层结构;(4)、通过干氧工艺制作致密的栅氧化层、多晶硅淀积并利用多晶硅光刻版掩膜刻蚀得到多晶硅栅结构;(5)、高浓度的砷离子采用多晶硅栅结构自对准注入,形成N+源区;(6)、在多晶硅栅结构表面淀积BPSG介质层,在950℃氮气氛围下回流30分钟,并使用接触孔光刻版掩膜对BPSG介质层刻蚀及硅外延层的过刻蚀形成浅槽;(7)、整个器件的上表面淀积一层铝,并利用金属光刻版掩膜刻蚀铝形成源电极和栅电极,钝化,背面金属化形成漏电极。
地址 710021 陕西省西安市凤城十二路1号出口加工区