发明名称 一种背照式图像传感器的晶圆级封装工艺及其封装结构
摘要 本发明涉及一种背照式图像传感器的晶圆级封装工艺及其封装结构,它包括以下步骤:在CIS晶圆的正面键合上负载晶圆,以负载晶圆做支撑将CIS晶圆的背面减薄,在已经减薄的CIS晶圆的背面做上滤光镜和微透镜;在CIS晶圆的背面的边缘位置用第一粘结胶进行覆盖,在该封闭环形内用第二粘结胶进行涂布,在第二粘结胶和第一粘结胶的背面键合上封盖;以封盖做支撑将负载晶圆减薄,并在已经减薄的负载晶圆内做出导电柱,在导电柱的上端部沉积出导电层;去除第一粘结胶的粘性,使CIS晶圆和封盖分离,清洗CIS晶圆和封盖以除去第二粘结胶,最后进行切割,得到背照式图像传感器的晶圆级封装结构。本发明减小了封装片的厚度并可以使封盖重复利用。
申请公布号 CN104992955A 申请公布日期 2015.10.21
申请号 CN201510413571.2 申请日期 2015.07.14
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 冯光建;靖向萌
分类号 H01L27/146(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅;涂三民
主权项 一种背照式图像传感器的晶圆级封装工艺,其特征是该封装工艺包括以下步骤:a、取已经在其正面做出引线(5)和图像传感器(6)的CIS晶圆(1),在CIS晶圆(1)的正面键合上负载晶圆(2),以负载晶圆(2)做支撑将CIS晶圆(1)的背面减薄,在已经减薄的CIS晶圆(1)的背面做上滤光镜(3)和微透镜(4);b、在CIS晶圆(1)的背面的边缘位置用第一粘结胶(7)进行覆盖,该第一粘结胶(7)在CIS晶圆(1)的背面边缘形成一个封闭环形,在该封闭环形内用第二粘结胶(8)进行涂布,且单位面积的第二粘结胶(8)的粘结力小于单位面积的第一粘结胶(7)的粘结力,在第二粘结胶(8)和第一粘结胶(7)的背面键合上封盖(9);c、以封盖(9)做支撑将负载晶圆(2)减薄,并在已经减薄的负载晶圆(2)内做出导电柱(10),在导电柱(10)的上端部沉积出导电层(11);d、去除第一粘结胶(7)的粘性,使CIS晶圆(1)和封盖(9)分离,清洗CIS晶圆(1)和封盖(9)以除去第二粘结胶(8),最后进行切割,得到背照式图像传感器的晶圆级封装结构。
地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋