发明名称 三维堆叠MEMS封装结构
摘要 本实用新型公开了一种三维堆叠MEMS封装结构,采用一中介层作为连接MEMS芯片与IC芯片的桥梁,该中介层的尺寸大于IC芯片的尺寸或/和MEMS芯片的尺寸;中介层上设置有若干用于将该MEMS封装结构的电性导出的焊球。这样,此三维堆叠MEMS封装结构将不受MEMS芯片和IC芯片尺寸的限制,当IC芯片较大时,可将焊球设于中介层的下表面上,当MEMS芯片较大时,可将焊球设于中介层的上表面上,当IC芯片均较小时,焊球可任意设置在中介层的上表面或下表面上,因此,无论尺寸大小,均可采用此封装结构,从而满足MEMS的集成封装,达到降低生产成本,提高MEMS封装的集成度及封装良率的目的。
申请公布号 CN204714514U 申请公布日期 2015.10.21
申请号 CN201520356956.5 申请日期 2015.05.28
申请人 华天科技(昆山)电子有限公司 发明人 万里兮;肖智轶;钱静娴;翟玲玲;马力;项敏;沈建树
分类号 B81B7/02(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81B7/02(2006.01)I
代理机构 昆山四方专利事务所 32212 代理人 盛建德;段新颖
主权项 一种三维堆叠MEMS封装结构,其特征在于,包括MEMS芯片(200)、中介层(300)和IC芯片(100),所述中介层具有上表面(300a)和下表面(300b),所述中介层的下表面中部具有凹槽,所述凹槽周边设有贯通所述上表面和下表面的若干导电通孔(6);所述中介层的下表面与所述MEMS芯片的正面通过密封圈(3)键合密封连接,使所述凹槽与所述MEMS芯片中部的腔体(4)相对围成一密闭空腔,所述MEMS芯片的元件(5)位于所述密闭空腔内;所述IC芯片贴装于所述中介层的上表面,所述IC芯片的电性与所述MEMS芯片的电性通过所述导电通孔进行连接;所述中介层的尺寸大于所述IC芯片的尺寸或/和所述MEMS芯片的尺寸;所述中介层上设置有若干用于将该MEMS封装结构的电性导出的焊球(304)。
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